激光平面干涉儀 CE36-INF60-LP/M107501
緊湊結構、小型化、防塵效果好
批量檢測平面光學元件表面面型測量。
激光平面干涉儀 CE36-INF60-LP/M107501
大測量口徑:Φ60mm
測量方式:菲索干涉原理
光源:半導體激光器(635nm)
對準方式:簡單兩點對準
標準參照鏡面形精度:p-v:λ/20
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